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芯片切片分析是一种先进技术，可深入研究芯片的内部结构和性能。切片后可以直接观察芯片内部的微观结构，如晶体管、电路布线等。该分析方法在半导体、电子显微学和材料科学等领域有广泛应用。
在芯片切割分析的过程中，必须使用高精度的切割器材将芯片切成薄片，接着通过电子显微镜等设备来观察和分析这些切片。这项技术有助于研究人员认识芯片的性能瓶颈，优化芯片的设计，提升芯片的性能和可靠度。
除此之外，芯片切片分析还可用于故障检测和质量控制。通过对出现故障的芯片进行切片分析，可以查明故障原因和位置，为修复和改进工作提供有力支持。同时，切片分析也可用于评估芯片生产过程中的质量控制水平，以确保产品符合规格和要求。
总的来说，芯片的切片分析是一项关键的技术工具，对于深入了解芯片的性能和优化芯片设计具有重要意义。
No.1 案例背景
某公司有2Pcs焊接问题的芯片。根据客户要求进行切片分析原因。
来料样品图
No.2 分析过程
1、外观检查
1#样品外观图
2#样品外观图
说明
光学显微镜下观察，1#和2#外观表面无明显异常。
2、 切片检查
1# 切片位置图
1#异常图
1#异常放大图
2#切片位置图
2#异常图
2#异常放大图
No.3 分析结果
综上所述：样品进行切片后，截面检查对应锡球与焊盘之间的焊接点有裂缝。
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