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失效分析:笔记本电脑转轴断裂失效原因与解决方案(华南检测)

发布日期:2024-08-09阅读量:572
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  • 在现代电子设备中,笔记本电脑的转轴是连接显示屏和键盘的重要组件。它的可靠性直接关系到整个设备的使用体验和寿命。本次分析针对某品牌笔记本电脑转轴的断裂失效问题,通过一系列的测试分析,旨在找出断裂的原因,并提出相应的解决方案。

    断裂失效分析

    一、样品信息

    本次分析的样品共有3套,其中2套NG(Not Good,即不合格)样品在不同次数的可靠性试验后发生断裂,而1套OK(合格)样品经过50000次试验后未发生断裂。所有样品均采用粉末冶金工艺制成的马氏体时效不锈钢,经过注塑、烧结、固溶+深冷、时效处理,并最终化学镀镍和除氢处理。

    断裂失效分析

    二、转轴断裂失效分析测试

    1. 断口形貌检查

    通过显微镜和电镜观察,发现断裂均发生在轴芯厚度变化的R角位置,这是应力集中的常见区域。1#和2#样品的断口中心均显示沿晶断裂特征,且存在鸡爪纹,这符合氢脆断口的特征。1#样品的沿晶断面占比大于2#样品,表明1#样品的残余氢含量可能更高。此外,1#样品断口边缘显示了解理台阶和韧窝形貌,而2#样品断口边缘则显示疲劳条带,表明裂纹起源于样品内部并向外扩展。

    断裂失效分析

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    断裂失效分析

    断裂失效分析

    2. 金相组织检测

    对1#、2#、3#样品进行金相组织检测,结果显示各样品均未见明显夹杂异常,烧结孔洞形态和分布也未发现明显异常和差别。腐蚀处理后,各样品均显示为低碳马氏体加少量残余奥氏体,未见明显组织缺陷。但1#样品中可见沿晶界扩展的二次裂纹。

    断裂失效分析

    断裂失效分析

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    3. EDS检测

    通过能谱分析(EDS),1#、2#、3#样品的基材成分未见明显差别和异常。

    断裂失效分析

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    4. 维氏硬度测试

    维氏硬度测试结果显示,1#样品的硬度值符合客户要求,但偏上限。2#和3#样品的硬度值略高于客户要求值,硬度值偏高可能增加氢脆敏感性。

    断裂失效分析

    三、转轴断裂失效分析结论

    综合分析结果,推测样品失效的主要原因是镀镍后除氢不彻底导致的氢脆断裂。在服役条件下,氢元素在样品内部晶界位置聚集,削弱了晶界强度,导致裂纹从内部萌生并向外扩展。1#样品因边缘有效支撑面积不足而发生过载断裂,而2#样品则是由于边缘引发疲劳断裂。

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    实验室说明

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    广东省华南检测技术有限公司位于广东省东莞市,提供电子元器件失效、PCB/PCBA失效、集成电路失效、金属材料失效、高分子材料失效等多种检测服务。


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