广东省华南检测技术有限公司,欢迎您!
专注于工业CT检测\失效分析\材料检测分析的第三方实验室
公正高效 \ 精准可靠 \ 费用合理
客户热线
139 2686 7016
0769-82186416

SAT检测分析:精准定位与识别缺陷的关键技术

发布日期:2024-02-02阅读量:61
  • 0
  • 超声波扫描显微镜(Scanning Acoustic Microscope,简称SAM)是一种利用超声波进行无损检测的仪器。由于它主要用于C模式工作,所以也被称为C-SAM或SAT。此设备主要用于探测物体内部的微小空洞和缺陷。

    SAT检测分析

    超声波是指频率高于20kHz的声波。超声波扫描显微镜是一种非常好的无损检测方法,广泛应用于物料检测、失效分析、质量控制、质量保证、可靠性和研发等领域。使用该仪器可以检测电子元器件、LED、金属基板的分层、裂纹等缺陷,并通过图像对比度来判断材料内部声阻抗差异,从而确定缺陷的形状、尺寸和方向。

    C-SAM超声扫描

    在电子元件失效分析的过程中,超声波扫描是一个非常关键的步骤。它可以对电子元件进行全面检查,检测元件内部的材料情况,包括分层、裂缝、空洞、硅片倾斜以及外部杂质。


    超声波扫描显微镜与X-Ray检测是相互补充的,它们在成像原理上有所不同,但在实际检测工作中均起到重要的无损检测作用。

    超声波扫描显微镜的检测原理是利用高频超声换能器将脉冲超声波传送到工件样品中。当超声波通过被测工件时,会在不同材料之间的结合面上产生反射和透射。例如液体与固体的结合面、固体与气体的结合面以及金属与塑料之间的结合面。同时,焊接面、电镀面以及固体材料内部的分层、孔洞、裂纹和夹杂会产生较大振幅的回波信号。超声换能器接收反射波并将其转换为电信号,然后传送给计算机。计算机系统可以准确识别和提取结合面、焊接面的反射回波信号。经过图像处理,可以将工件内部的情况精准地扫描成像。

    C-SAM超声扫描

    超声波扫描显微镜有两种成像方式,分别是反射成像的C-sam以及透射成像的超声T-sam。这两种方式在半导体行业中被广泛应用于检测半导体内部的缺陷。


    超声扫描检测技术可以被应用于多个场景,包括破坏性物理分析和失效分析、可靠度验证、质量检测以及真假料辨别等。目前,超声扫描检测技术已经被广泛用于批量测试领域,如IGBT模块、集成电路和片式多层瓷介电容器(MLCC)等。随着技术和应用需求的发展,超声检测技术正在不断朝着更高精度、高分辨率、数字化、图像化、自动化和智能化的方向迈进。


    华南检测基于材料科学工程和电子可靠性工程打造工业医院服务模式,借助科学的检测分析标准和方法、依托专业的工程技术人员和精密的仪器设备,帮助企业解决在产品研发、生产、贸易等多环节遇到的各种与品质相关的问题,工业CT 检测、失效分析、材料分析检测、芯片鉴定、DPA分析、芯片线路修改、晶圆微结构分析、可靠性检测、逆向工程、微纳米测量等专业技术测服务,欢迎前来咨询了解。

     

    华南检测失效分析:

    http://www.gdhnjc.com/websiteMap


    • 扫码关注公众号
    咨询热线:
    0769-82186416
    邮箱:mkt@gdhnjc.com
    地址:东莞市大岭山镇矮岭冚村莞长路495号
    粤公网安备 44190002006902号   备案号: 粤ICP备2022048342   版权所有:广东省华南检测技术有限公司   Guangdong South China Testing Technology Co., LTD