FTIR在元器件假冒翻新鉴定中的应用

电子元器件市场鱼龙混杂，对于元器件采购来说，最怕的就是买到假货。说到元器件的真假，无非就是需要辨别一下，元器件是原装货还是散新货。这里所说的散新货，就是翻新件或是拆机件，是经过处理再加工的器件，所以行业人一般称之为散新货。同一样的价格，谁都想买到新的，全新功能的器件，所以这就需要一些常识来辨别哪些是原装新货。如果同一块板子，一模一样的电路，焊接完之后，却有不同的上电现象和效果，那可能就是采购的这批货有问题。

本文主要针对FTIR显微红外光谱技术在元器件假冒翻新鉴定中的应用作简要浅析，FTIR显微红外光谱分析是显微分析和红外光谱分析结合在一起的分析方法，它利用不同材料（主要指有机物和大部分无机化合物）对红外光谱的不同吸收原理，结合显微放大找出污染物的位置和形貌，分析污染物的化学成分。FTIR显微红外光谱技术在众多领域有广泛应用，如电子电路、光学显示和成像、医药研制、物证鉴定、生命科学，食品安全等领域，发挥重要的作用。

首先，我们介绍一下红外光谱基础理论知识。

一）光的分布

光的波长分布如图1，其中红外光波长在10-6～10-3 m之间。

二）红外光谱产生原理

根据物理化学基本概念，分子是运动的，当物质的分子在接收到红外光时，分子会发生对光能量的吸收，分子获得能量后产生不同的效应：a)电子激发、b)分子振动、c)分子转动，不同效应对应不同范围的分子光谱。

三） 红外谱图解析

1、特征峰

分子中某一特定基团的某一振动方式其频率总是出现在有相对窄的区域，而分子的剩余部分对其影响较小。在不同分子中该基团振动频率基本上是相同的，这种可用于鉴定基团存在，具有一定强度的吸收峰称为特征峰，其所在位置称为基团特征频率。

例如： -CH3， -CH2 的伸缩振动频率在3000 cm-1～2800cm-1范围，

C=O 的伸缩振动频率在1800 cm-1～1650 cm-1 范围。

2、相关峰

一组具有相互依存关系的特征峰。

例如：-CH=CH2 的ν= CH2 ～3085 cm-1

νC= C 1680 cm-1～1620 cm-1

当分子结构变复杂时，分子间的相互作用也越来越复杂，所以也将产生更复杂的光谱图，一般若需要对一张未知物成分谱图进行特征峰判别鉴定，需要具备专业的有机化学基础和红外光谱特征基团知识储备，本文不作这部分的详细阐述。

常见的FTIR显微红外光谱分析仪出厂自带基础物质谱图数据库，而设备使用方可以自建本地数据库，根据自身需求，用已知物质制作标准谱图建数据库；对未知物质进行鉴定时，可以拉出本地自建数据库进行检索，快速对未知物质进行判别。

举例，某款芯片做假冒翻新鉴定，对芯片侧面透明残留物进行红外光谱检测，检测结果残留物为松香(助焊剂)，匹配度达96.19%，证明该芯片有被使用过，非全新芯片

测试仪器：傅里叶红外光谱仪 ThermoFisher Nicolet iN10

本文对红外光谱基础理论、FTIR显微红外光谱技术元器件假冒翻新鉴定应用两个方面进行了简单介绍，并结合典型案例阐述了该方法，希望能让读者对FTIR红外光谱技术和其在元器件假冒翻新鉴定领域的应用有所了解。

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