广东省华南检测技术有限公司,欢迎您!
专注于工业CT检测\失效分析\材料检测分析的第三方实验室
公正高效 \ 精准可靠 \ 费用合理
客户热线
139 2686 7016
0769-82186416

芯片开封的常用方法及其注意事项

发布日期:2023-09-20阅读量:544
  • 0
  • 芯片开封是一项常用于科研、电子元器件维修、芯片分析等领域的技术。通过芯片开封,不同的领域可以通过获得内部电路结构信息,进行故障分析、性能评估和改进设计等一系列的操作,为进一步的研究和发展提供了关键支持和基础。

    芯片开封的常用方法及其注意事项

    芯片开封常用的方法:

    ①化学开封:选用对塑料材料有高效分解作用的化学试剂,如发烟硝酸和浓硫酸。主要操作方法:将封装放入加热后的化学试剂中,待聚合物树脂被腐蚀成低分子化合物,然后用镊子夹着芯片,在培养皿中以酒精为溶液用棉花将低分子化合物清洗掉,从而暴露芯片表面。

    ②激光开封:对于一些高精度要求或特殊材料封装的芯片,可以使用激光进行开封。激光能够高度集中的能量对封装材料进行切割,以实现开封。该方法开封速度快,操作方便,无危险性,也可以对在初步开盖之后进行后续的进一步化学开封。

    无论使用哪种开封方法,都需要在安全环境下进行,并且要谨慎操作,避免对芯片本身造成损坏。


    芯片开封的注意事项:

    ①在开封前需要先处理封装材料,以确保封装材料与芯片内部结构分离,但也要避免损坏芯片内部元件

    酸蚀化学品使用时必须戴上化学手套,并在通风良好的地方操作,避免化学品伤害身体。

    清洗的过程中,镊子不可直接接触金丝和芯片表面,以免造成不必要的划伤。


    华南检测技术专注工业CT 检测、失效分析、材料分析检测、芯片鉴定、芯片线路修改、晶圆微结构分析、可靠性检测、逆向工程、微纳米测量等专业技术测服务,欢迎前来咨询了解,客服咨询热线:13926867016。 

    • 扫码关注公众号
    咨询热线:
    0769-82186416
    邮箱:mkt@gdhnjc.com
    地址:东莞市大岭山镇矮岭冚村莞长路495号
    粤公网安备 44190002006902号   备案号: 粤ICP备2022048342   版权所有:广东省华南检测技术有限公司   Guangdong South China Testing Technology Co., LTD