元器件筛选检测服务
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华南检测可满足各等级元器件筛选方案设计和检测需求,提供电子元器件测试、评估、质量保证的成套方案,帮助企业及时发现和剔除有缺陷、易发生早期失效的元器件,提高电子元器件的使用可靠性,保障和支撑电子装备可靠性提升。 | ![]() |
元器件筛选服务范围
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电子元件:电阻、电容、电感、继电器、磁珠、变压器、晶体振荡器、晶体谐振器、继电器、电连接器等;
半导体分立器件:二极管、三极管、MOS管、IGBT、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等;
半导体集成电路:CPU、存储器、FPGA、AD/DA、数字电路、模拟电路、混合电路、DC/DC、时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、 门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压⽐较器、 电源类芯片(稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)、数模转换器(A/D、D/A、SRD)、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、 控制器等;
电子模块:电源模块、通讯模块、控制模块等具备相对功能完整电路。
元器件筛选测试项目
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●外观检查
●电性能测试:常温测试/高温测试/低温测试
●环境/机械应力检测:振动、低温贮存、高温贮存、温度循环、温度冲击、恒定加速度或跌落、密封(粗检漏、细检漏 )、粒子碰撞噪声检测(PIND)
●高温动态老炼、高温反偏老炼、功率老炼、恒流老炼、间歇寿命老炼
●芯片超声检测
●X射线扫描检测
相关资质
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元器件筛选测试标准
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GJB7243-2011军用电子元器件筛选技术要求
GJB128A-1997半导体分立器件试验方法
GJB360A-1996电子及电气元件试验方法
GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序
QJ10003- -2008进口元器件筛选指南
MIL-STD-750D半导体分立器件试验方法
MIL-STD-883G微电子器件试验方法和程序
测试须知———————————————————————————————————————————————————————————
1、测试所需:芯片规格书
2、可根据客户需求提供中文报告
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